L'Université

Leçon inaugurale

Temps, lumière et extrême précision

Professeur Thomas Südmeyer, Faculté des sciences

Mercredi 16 octobre 2013 à 18h15, Aula d'Unimail, rue Emile-Argand 11

Peu de découvertes du 20e siècle ont autant influencé les développements techniques et notre quotidien que les sources lasers continues. Aujourd’hui, celles-ci se retrouvent aussi bien dans les imprimantes, les lecteurs CD/DVD et les télécommunications que dans de nouvelles méthodes de diagnostic et de traitements médicaux. Les lasers à impulsions ultra-courtes prennent également une importance grandissante, ouvrant ainsi la voie à de nouvelles méthodes de mesures d’une précision inégalée. Par exemple, les meilleures horloges sont aujourd’hui optiques, et sont capables d’atteindre une précision supérieure à 1015, équivalente à mesurer la distance entre la Terre et la lune avec une résolution inférieure à un micromètre.

La métrologie optique de haute précision prend une importance toujours plus grande de nos jours : des exemples se trouvent dans quasiment tous les domaines de la recherche allant du développement de nouveaux outils de mesure en micro-technologie, au domaine de la santé, ou encore le contrôle de l’environnement. Dans le cadre de notre recherche, nous développons de nouveaux systèmes de mesures à base de lasers à impulsions ultra-courtes, de complexité réduite et offrant de nouvelles fonctionnalités.

Thomas Südmeyer

Professeur ordinaire en physique
Etudes en physique à l’ENS Paris et à l’Université Leibniz de Hanovre, Allemagne
Bourse européenne à IOP, Université de Strathclyde, Glasgow, Royaume-Uni
Doctorat en physique à l’ETH Zurich, Suisse
Ingénieur de recherche à Sony Corporation, Tokyo, Japon
Collaborateur scientifique senior et habilitation en physique à l’ETH Zurich, Suisse
Chaire de physique à l’Université de Neuchâtel, Directeur du Laboratoire Temps-Fréquence et de l’Institut de physique
 

Domaines de recherche

Science des lasers et métrologie optique. Mesure du temps et des fréquences. Nouveaux systèmes métrologiques de complexité réduite avec de nouvelles fonctionnalités, pour la réalisation de nouvelles applications dans une approche interdisciplinaire.

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